深刻蚀亚波长菲涅尔波带片聚焦特性研究

来源 :温州大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:stonefountain
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
二元相位和振幅菲涅尔波带片(FZP)是一种重要的平面型光学元件,它通过衍射和干涉而不是通过折射实现聚焦和成像功能。波带片可以应用在纳米光刻、光谱学、近场和远场的光学显微以及光学天线等许多方面。相位型波带片的衍射效率比振幅型波带片高,因而在可见光范围内的共聚焦显微、高分辨率光刻等大量应用中相位型波带片更具有优势。本文提出了一个相位型厚菲涅尔波带片矢量衍射解析模型。在所提出的模型中,考虑了菲涅尔波带片表面的散射以及波带片区域体内的反射和折射效应,推导出在FZP出射光瞳平面的电场分布,在衍射空间的衍射场用矢量瑞利-索莫菲衍射理论计算。利用时域有限差分(FDTD)法检验了解析模型的正确性。结果显示,在有效的刻蚀深度范围内,所提出的模型计算结果和时域有限差分模拟结果很好一致。两种方法所预测的最优刻蚀深度基本相等。因此,该解析模型对设计一个高数值孔径、短焦距和高分辨率的相位型FZP非常有用。此外,用时域有限差分方法模拟了具有衬底薄膜的二元相位亚波长菲涅尔波带片的衍射特性与照明光入射方向的相关性。模拟结果显示,在有效的刻蚀深度范围内,FZP的远场聚焦光斑的强度和大小对光束是从FZP的衬底一侧入射还是从FZP的结构一侧入射不太敏感。但是,光从FZP的结构一侧入射时的焦长大于光从衬底一侧入射时的焦长。对于两个不同的入射方向,焦长都随着刻蚀深度的增加而减小。对于一些特定的刻蚀深度,例如,在计算的FZP中刻蚀深度为700nm时,光从FZP结构一侧入射可以获得大的焦深,同时,聚焦光斑的强度和光斑的分辨率的减小在可以接受的范围内。本文的模拟结果对于FZP在显微成像和光刻等一些应用中是有用的。
其他文献
大地电磁测深是一种研究地球电性结构地球物理勘探方法,它是利用天然交变电磁场来研究地球电性结构,由于它不用人工建立场源,成本低,工作方便,不受高阻层屏蔽,而且对低阻层分辨率比较高,且勘探深度仅与电场的频率有关,浅部可探测几十米内,深部可探测到数百千米,因此无论是找矿找水还是在工程勘察等方面都有着广泛应用。但是野外数据采集往往没有十分理想的条件,地下地层的电性不均匀性以及工区地形的起伏都会对探测到的数
在传统实验的基础上,利用ZnWO4晶体,同学们自己动手制备位错蚀坑样品,效果非常理想;实际运作过程锻炼了同学们的动手、分析能力,以及有关基础知识的掌握、应用。
根据对东郊水库C1料场天然建筑材料勘察,进行相关取样实验,制定颗分曲线图、指标评价及储量评价,详细分析该水库C1料场的天然建筑材料的地质情况,为水库大坝的选型提供重要依据。
为了解毛滩河三层岩水电站碾压混凝土大坝坝基的施工期、蓄水期及运行期不同阶段的变形情况及大坝工作状态,确保大坝安全,同时给工程建设及运行管理提供科学的依据,对大坝坝