随着集成电路仿真与测试技术的不断发展,人们所使用的软件和自动测试设备也在不断的更新。测试图形是自动测试设备中非常必要的输入信息,在生成的时候经常会遇到周期化的问题。所谓周期化是指把波形的描述方式从基于事件触发的形式,转化为基于周期触发的、测试设备能够识别的形式。如何高速、有效的解决这类问题是本文将要探讨的内容。首先,介绍了国内外的最新研究动态,解释了集成电路测试行业常常用到的一些专业术语,以及自动测试设备的工作原理,为周期化问题的分析提供了必要的基础。其次,集成电路测试过程中一般会涉及到很多的软件和设备,它们产生的文件格式也会有很多种,论文以文件中的关键词为突破口,分析了应用十分广泛的VCD(Value change dump)、WGL(Waveform Generation Language)、STIL(Standard Test Interface Language)等文件格式的特点及其主要的结构。在此基础上,通过典型的案例分析,完成了手动周期化VCD文件的目标。再次,总结典型的周期化的流程,提出了适合一般情况的算法,以链表的形式存储数据,以增加位数的方式描述时间化的事件,最后利用常见的贪婪算法,实现了文件格式的自动转换。最后,利用Code::Blocks开发平台,在研究软件GTKwave的源代码的基础上,添加了周期化的功能,基本上完成了测试向量周期化的工作。本文比较了目前已有算法的优缺点,并提出了改进策略。同时,对实际转换中遇到的各种情况的处理仍有一定不足,需要进一步的完善。