随着BCD工艺的发展，对BJT器件特性的要求也愈发严格，这对BJT模型参数提取必然提出更高的要求。一方面，芯片设计者希望模型能更真实地反映工艺水平，从而提高产品的良率。这样对模型的准确度就有了更高的要求。另一方面，设计者希望尽早得到BJT模型用以仿真以便能更快完成设计，使产品尽快推出市场。这又要求我们用尽量短的时间完成BJT模型参数的提取。而目前BJT的参数提取对于MOS器件相对落后，不能满足上述需求。在这样的形势下，本文在传统BJT的特性曲线拟合的基础上，增加了电学参数拟合，使模型更接近工艺的目标值以便更能反映工艺的实际水平。并着重引进了电路级别的参数提取及其方法，从而缩小单个器件与实际电路中器件特性的仿真差别，进一步提高了模型的准确度，使设计者对工艺水平有更准确的理解，从而更好地优化电路，设计出更有竞争力的产品。另一方面，为了提高BJT模型参数提取的效率，针对目前商用软件定制化提取优化的种种不足，无法满足整个BJT参数提取的需求的现状，整理出一套适合BJT自动提取与优化的方案。该方案在整合了电路级参数提取和电学参数提取流程的同时，基于Perl语言开发了一套优化程序，并对传统的Levenberg-Marquard和Nelder-Mead优化算法进行了一些改进，使之能更适应BJT的优化。这种方案能满足定制化需求，易于实现BJT的各种类型的自定义提取与优化。并且具有扩充性强，方便调试等特点，在实际工作中得到很好的应用,适合推广。