随着微光像增强技术和微光成像器件的发展,光子计数成像技术近年来发展迅速并日趋成熟。光子计数技术在理论上可以对单个光子进行有效探测,因此能够探测到极微弱光下的光子图像。光子计数在天文观测、生物探测、通信、粒子物理学等领域具有广泛的应用前景。　　 本文对常用的单光子探测器件进行了比较和分析,最终选择工作在盖革模式下的雪崩光电二极管(APD)作为核心探测器件。在深入了解APD的单光子探测机理和盖革模式下性能参数的基础上,采用对图像进行二维扫描且单元探测器接收的方式构建光子计数成像系统。　　 搭建了以Si-APD单光子探测器为核心的像扫实验平台,实现了单元扫描方式的APD光子计数成像。通过光子一照度标定实验、量子效率验证、光源均匀性测试暗计数测量等多个实验测试,验证了实验平台的可行性。对黑白条纹、鉴别力板、lena灰度图像在不同照度和取不同像素点的情况下扫描成像,对图像效果进行分析和比较,给出了APD单光子计数成像技术能够达到照度下限。　　 文章最后结合本文研究的不足之处,给出了今后研究的方向和APD光子计数成像技术研究展望。