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DC/DC转换器是航天电子设备辐射易失效单元之一,其可靠性尤其是抗辐射性能备受关注。传统的辐射加固方法生产的器件存在生产周期长,成本高等缺点,而且性能落后于市售成品至少两代。本文探索通过对DC/DC转换器内部易损器件进行抗辐射能力筛选提高DC/DC转换器抗辐射性能的新方案。PWM控制器是DC/DC转换器反馈控制回路的核心器件,辐射诱发的PWM控制器的功能退化将导致DC/DC转换器输出不稳定甚至失效。VDMOS器件是理想的开关器件和线性放大器件,辐射诱发的VDMOS器件退化会导致DC/DC转换器效率下降。本文从PWM和VDMOS器件辐射退化与DC/DC转换器整体退化之间的定量关系研究入手,利用噪声与VDMOS器件和PWM辐射退化之间的定量关系,设计了两种关键易损器件抗辐射筛选方案,并仿真验证了筛选效果。同时,本文还把基于故障预测和健康管理(PHM)可靠性工程新理念引入到DC/DC转换器辐射加固上,设计了基于PHM思想的DC/DC转换器整体预兆单元。本论文研究工作的主要结论和研究结果有:1、实验结果表明,在电离辐照后,VDMOS器件阈值电压向负向漂移。对于N型VDMOS,当其阈值电压漂移至小于零时,关态漏电流显著增大。对于在DC/DC转换器中的VDMOS器件来说,这将导致DC/DC转换器的效率降低,数据表明,这是DC/DC转换器辐射下效率退化的最主要原因。2、实验结果表明,在电离辐照后,PWM模的基准电压稍有增大,同时DC/DC转换器的输出电压也会增大,但二者增大的幅度并不一致。理论分析表明,对于磁反馈结构的DC/DC转换器而言,输出电压唯一地由PWM基准决定;但对于光耦反馈结构的DC/DC转换器而言,输出电压主要由其它基准器件决定,与PWM基准的关系不大。因而不能简单的认为DC/DC转换器的输出电压是由PWM基准决定的。3、提出了VDMOS和PWM抗辐射筛选方案,方案包括VDMOS和PWM的抗辐射筛选指标和筛选流程,并仿真验证了筛选效果。4、设计了VDMOS和PWM筛选辐照实验方案,该实验方案用于对VDMOS抗辐筛选方案进行验证,方案确定了实验采用的辐照总剂量、剂量率、偏置电路和测试方法等等。5、设计改进了DC/DC转换器预兆单元,阐明了DC/DC转换器预兆单元与PHM系统之间的关系。