在可靠性分析中，人们往往通过分析系统的寿命数据来估计该系统中各组成单元寿命分布中的未知参数。系统寿命试验数据包括两个方面，一是失效时间，二是失效原因，即系统的失效是由哪一个单元失效引起的。在实际中对系统失效原因的研究，往往需要耗费较多的时间和资金，正是这方面的原因限制了我们通过进一步试验来搞清失效的真正原因。导致屏蔽发生的原因很多，如：经费的不足、时间的限制、记录的错误，诊断工具的缺乏及由某些单元失效所带来的一些破坏性的后果等。屏蔽数据的统计分析已成为近年来研究的热点问题之一。　　 本文主要对屏蔽数据串联和并联系统分别在简单以及多次逐次截尾样本场合下的寿命数据经行了统计分析，并通过改变系统的失效率，给出了不同失效率下参数的极大似然估计和近似区间估计，又通过MATLAB模拟，给出了参数估计的精度和实例。