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光学相干层析（optical coherence tomography，OCT）成像技术是一种新型的无损检测技术，其成像深度达数毫米，空间分辨率达到微米量级，具有较高的灵敏度。利用OCT非接触无损获取陶瓷釉层二维断面结构信息及一定深度的三维平面层析数据信息是分析陶瓷釉层结构和形态特征的有效方法。将OCT技术与其他材料学分析技术相结合，可以对釉层的综合物理化学信息和烧制工艺进行更为全面的研究。 论文的主要内容包括以下几个方面: (1)利用光学相干层析成像技术对陶瓷釉层断面特征进行表征，研究釉层二维断面和三维层析OCT图像的特征及规律，确定釉层气泡、异质颗粒、均匀玻璃相釉层、含异质玻璃相釉层、胎釉结合面以及釉层表面在二维断面及三维层析图像中的形态特征，釉层OCT图像结构特征对陶瓷制作工艺有着直观的反映，为其烧制工艺提供有益信息。 (2)对一大批古代陶瓷样品（河南、江西、广州等地出土）进行OCT测试。以河南巩义县黄冶窑出土的陶瓷片为例，重点对其进行二维断面和三维层析分析，基于OCT分析结果，确定古代陶瓷的胎体和釉层的均匀度、胎釉结合特征、断面结构特征，对釉面釉面不均匀性、透光性差异、釉层产生缺陷、析晶和分相的原因进行分析，探讨可能的制作工艺。 (3)将数字图像处理技术与陶瓷釉层OCT图像特征分析相结合，运用计算机数字图像处理技术从OCT图像中提取有效信息，如气泡及异质颗粒的位置、大小及分布，釉层均匀性，釉层的纹理特征参数等;基于数字图像处理算法，对于由于光高吸收特性引起的成像不清晰的样品，进行OCT成像补偿，展示其结构特征;基于纹理特征参数进行瓷釉的K邻近分类。OCT图像特征的提取和分类为陶瓷类型及窑口鉴别提供科学依据。 (4)基于OCT成像结果，将古代陶瓷釉层分为均匀玻璃相釉层、含异质玻璃相釉层以及混合型釉层三种。结合OCT、X射线荧光光谱分析(X-rayfluorescence spectrometry spectrographic analysis，XRF）、扫描电子显微镜(scanningelectron microscope，SEM)以及激光诱导击穿等离子体光谱(laser-inducedbreakdown spectroscopy，LIBS)技术对釉层进行多维度研究，探索OCT图像灰度衬度变化与化学成分变化的内在联系。