该文采用电容电桥法研究了聚合物复合薄膜的介电谱.首先在聚合物复合薄膜的上表面采用LDM1500真空溅射上一层金膜作为一电极,玻璃衬底的导电层与薄膜下表面接触,作为另一电极,构成平行平板电容器.然后,利用HP4129A型阻抗分析仪测得了室温下电光聚合物复合薄膜相对介电常数ε<,r>随频率的变化关系曲线.另外测得了聚合物复合薄膜的相对介电常数ε<,r>随温度的变化曲线,并由该曲线推断出了复合材料的玻璃化温度.该文采用透射光谱法和准波导耦合技术测量了薄膜的厚度和折射率.透射光谱法利用样品的透过率曲线谱来计算薄膜的厚度和折射率.它的试验过程比较简单,计算过程可以通过计算机编程来实现,免去了大量的手工计算比较简单、快速和准确.同时它对样品质量要求比较高,薄膜必须均匀并且表面平行.准波导耦合方法只要求角度测量,而角度测量方便而且精度高.但也有局限性,即它要求样品的折射率必须大于衬底的折射率,这对一些折射率低的样品来说难以达到.该文比较了测量聚合物复合薄膜电光系数的多种方法,并提出了一种测量薄膜电光系数的新方法—简单透射技术.这种方法不损伤薄膜,不需要施加高的工作电压,而且试验操作简便,特别适宜于对样品的动态弛豫过程进行跟踪监测.但该方法的理论处理忽略了自然双折射,即认为n<,o>≈n<,e>,另外还认为γ<,33>≈3γ<,13>,这使得该方法有一定的局限性.该文论述了表征电光聚合物复合薄膜介电性能、电光性能、光传输损耗以及厚度和折射率等的各种方法,这为将来用电光薄膜材料制作调制器和光开关等提供了可靠的性能参数,有非常重要的意义.