数字化X射线成像技术是当今医学诊断研究领域最活跃的前沿课题之一,相较于传统的X射线成像技术,它可以获得更高的分辨率、更快的成像速度以及更高的射线利用率,这对病灶的分析诊断有着重要的意义。近些年来,由于国家加大对国产医疗企业的扶持力度,性能更加优越的DR得到了企业的重点关注。由于机械制造工艺不足以及外部环境的影响,基于CCD的DR影像设备在成像时不可避免的存在灰度失真和几何失真问题,这导致图像的某些细节消失,视觉观感不真实,不利于对病灶的分析与诊断。本文从企业的实际需求出发,兼顾企业的研发成本等因素的影响,深入分析造成X射线图像失真的原因,提出切实可行的校正算法。针对灰度失真的问题,本文重点研究暗电流校正、不均匀性校正和饱和校正。对于暗电流噪声,采用叠加法和邻域插值法进行校正。分析比较常规方法的优缺点,结合系统硬件的实际情况,使用分段线性校正算法对图像进行不均匀性校正。考虑到图像在大剂量X射线照射的击穿现象,提出饱和区域补偿的方法进行校正。对比校正前后的图像,灰度失真问题得到改善,校正后的图像灰度更加均匀。针对几何失真的问题,本文设计了使用有机玻璃和复合钢板的校正点靶,该点靶具有良好的几何特性。基于该点靶提出一套基于DRLSE的识别校正靶标识点的算法流程。对于提取的标识点对,分析全局多项式变换法、正交多项式变换法、移动最小二乘法各自的优缺点,指出移动最小二乘法应用于该系统几何失真校正精度最高。实际应用表明该算法流程可以有效解决几何失真的问题,使校正后的图像线性度更好。为了满足实际应用中实时性的需求,需要对算法进行加速,本文使用Nvidia公司推出的CUDA技术,分别对前文提出的分段线性校正算法和几何校正算法进行分析,并设计出切实有效的并行算法。实验验证并行算法能够满足实时需求。