直流参数测试是集成电路测试的一种重要方法,是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路直流参数测试技术是发展集成电路产业的一门支撑技术。因此,集成电路直流参数测试系统作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。随着集成电路的发展,规模越来越大,结构也越来越复杂,集成电路的直流参数测试也就越来越重要。本文介绍了新型超大规模集成电路(VLSI)直流参数自动测试系统的原理、实现过程及其优势。本文以单管脚参数测试器件AD5520 和测量放大器AD524 为设计平台,详细分析、研究了VLSI 直流参数自动测试系统的软、硬件。该系统具有结构紧凑,编程灵活等特点。实际应用表明,该系统自动化程度高,测试精度高,可靠性好。本论文分如下四个部分进行阐述: 第一、阐述直流参数测试的原理。介绍了我们的工作平台——单管脚参数测试器件AD5520 和测量放大器AD524 的性能、工作原理和主要优势。第二、叙述VLSI 直流参数自动测试系统的硬件实现方法。介绍了我们所采用的数/模和模/数转换器,模拟多路开关,PCI 卡以及CPLD技术。最后给出了硬件实现的整体方案。第三、叙述VLSI 直流参数自动测试系统的软件实现方法。具体方法是以VC 为工具, 编制测试程序及相应的用户界面实现VLSI 直流参数测试系统自动化。第四、叙述VLSI 直流参数自动测试系统的使用方法。