在空间辐射环境下光电耦合器容易产生损伤,导致可靠性降低、使用寿命缩短,甚至器件和系统会完全失效。光电耦合器作为航天电子系统的重要器件,选用时有必要评价其抗辐射能力。本文通过研究光电耦合器电离辐射损伤机制,分别建立其电离辐射损伤电流传输比模型和1/f噪声模型,优选了噪声灵敏评价参量,建立光电耦合器抗辐射能力噪声无损评价方法,并探讨该方法在筛选中的应用。本文主要完成的工作及得到的结论有:1.研究了光电耦合器辐射损伤机制,讨论了光电耦合器辐射损伤与常规电参量和噪声参量之间的相关性,分别建立光电耦合器电离辐射损伤电流传输比模型和1/f噪声模型。2.设计并完成辐照实验,验证了两模型的正确性,并优选出噪声幅值B作为噪声灵敏评价参量。3.光电耦合器和pn结材料的辐射损伤机理相类似,本文在研究pn结材料抗辐射能力噪声无损评价技术基础上,提出光电耦合器抗辐射能力噪声无损评价技术。包括建立噪声评价模型,确定参数提取方法、评价判据以及测试流程。4.以筛选二极管和光电耦合器为例探讨了噪声无损评价技术的应用。将噪声无损评价技术与筛选指标相结合得出筛选方案。