目的:评估根管预备后XP-endo FinisheFile(XPF)与被动超声冲洗(PUI)对根管内壁玷污层的清除效果。旨在为临床操作选择合适的根管预备方法提供依据。方法:选择60颗离体单直根管下颌前磨牙,截冠,所有根管标准化工作长度为16mm,再将10号K锉插至锉尖处时,热牙胶封闭根尖孔及根尖外表面。采用S3镍钛锉预备到3S,根据终末冲洗方式不同将样本随机分成6组:A组:3m13%次氯酸钠溶液联合XPF处理1分钟;B组:3ml3%次氯酸钠溶液联合XPF处理1分钟后,用4m1170%EDTA溶液冲洗1分钟;C组:3m13%次氯酸钠溶液联合超声处理1分钟;D组:3ml3%次氯酸钠溶液联合超声处理1分钟后,用4m1170%EDTA溶液冲洗1分钟;E组:3m13%次氯酸钠溶液30号侧方冲洗针冲洗1分钟;F组:3ml3%次氯酸钠溶液30号侧方冲洗针冲洗1分钟后,用4m1170%EDTA溶液冲洗1分钟。采用扫描电镜观察,分别比较根尖1/3区、根中1/3区牙本质小管开口数和根管壁玷污层清除效果。结果:1.在根尖1/3区和根中1/3区,B组与D组牙本质小管开口数明显高于其他四组(P<0.05),前两者无统计学差异(P>0.05);2.在根尖1/3区和根中1/3区,A组与C组牙本质小管开口数明显高于E组(P<0.05),A组与C组无统计学差异(P>0.05)。结论:XPF对根管内壁的清洁效果与PUI无明显差异,可用于根管预备后提高根管清洁效果。