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磁控溅射法制备了Ti-Al(40 nm),超薄Ti-Al(4 nm)薄膜,分别采用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)、四探针检测仪(Four-Point Probe)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)对阻挡层性能进行了分析。研究了退火温度对Ti-Al薄膜阻挡性能的影响。研究发现温度从室温到750℃样品表面粗糙度和方块电阻没有急剧升高,并且XRD曲线中没有Cu-Si等杂相出现。600℃退火后超薄非晶Ti-Al阻挡层(4 nm)临界面之间仍然是非常清晰平整,并没有反应和互扩散的发生。以上研