随着超大规模集成电路迅速发展,芯片的集成度越来越高。而供外部调/测试的引脚却很少,调测试问题日趋困难。于是,为了降低硅片后的故障测试和功能调试的难度,芯片设计者越来越关注所设计的芯片是否具有可测性和可调试性。X处理器是一款规模达到千万门以上的多核处理器,测试成本的控制是一个必须解决的关键问题。在一般测试中,固定故障测试、延迟故障测试以及内建自测试都有一套独立的测试结构,都会耗费相当大的硬件面积,对此,本文提出了一链多用的策略,在不损失三种测试功能的情况下,分时复用扫描链,节省硬件开销成本;由于本芯片存储器占用面积较大,严重影响着芯片的成品率,为此本文特别设计了完整的存储器故障定位逻辑,为存储器的冗余修复提供支持。X处理器功能复杂,规模庞大,工作频率很高,在线调试难度急剧增加。本文为处理器提供了一套完整的调试手段,除了常规的断点匹配,单步模式和多步模式等调试手段外,还提供了全系统的实时监控的能力;在不过多增加硬件开销的前提下实现了芯片的所有寄存器和存储器的观察和修改,由于X处理器需要在高速运转下捕捉寄存器的状态,但是I/O接口的访问需要在低速条件下进行的,所以高/低速时钟的正确转换变得非常重要。对此,本文提出了一套时钟切换方案,解决了切换时的毛刺和亚稳态的产生。本文采用了JTAG方式,整合调测试手段,构建了完整的调测试系统,提供了更强的板级调试能力。