由于具有剖面薄、体积小、重量轻、造价低廉、便于集成等优点,微带天线及其阵列已经被广泛应用于各种无线通信及雷达系统中。但是,当微带天线及其阵列工作时,会在衬底中激励起表面波,这使得阵列单元间的互耦增大,天线及其阵列增益降低。而相控阵天线中,由于单元间的互耦效应将引起扫描盲点,影响扫描范围。本论文正是基于上述问题开展研究的。首先总结了光子晶体(PBG)、共面电子带隙(UC-EBG)及高阻抗表面在微带阵列天线单元之间互耦抑制方面的应用。然后,研究了缺陷地结构的特点、发展概况及应用。最后提出利用缺陷地结构(DGS)来抑制互耦,从而降低旁瓣,提高天线性能。仿真以及测试结果分析表明,DGS结构能够明显降低天线阵元之间的耦合,增大天线增益,消除相控阵扫描盲点。本文的主要内容为:1.设计了一种新型DGS结构,并对该结构进行了阻带特性及参数提取分析,提出了一种更为准确的阻带特性分析模型,为DGS结构在微带阵列天线中的应用提供较为准确的阻带特性分析途径。2.将该DGS结构引入微带阵列天线中,分析了该结构抑制微带阵列天线单元间互耦的效果。通过仿真和测试得出,在微带天线阵列之间的地板上添加了DGS结构以后,得到了较好的互耦抑制效果,天线阵列增益和辐射效率也较参考天线有所提高。3.分析了DGS结构在相控阵天线扫描盲点抑制中的作用。通过应用Floquet定理分析得出相控阵天线的扫描特性曲线,研究结果表明所提出的DGS结构能有效抑制相控阵扫描盲点。