随着电路系统集成度和生产工艺复杂度的不断提高,尤其是片上系统(System on a Chip,SoC)的出现,集成电路(Integrated circuit,IC)的测试问题显得越来越重要。内建自测试(Built-In Self-Test,BIST)能在最大程度上把测试过程集成在待测芯片内,目前已经成为解决芯片测试难题和降低测试成本的主要手段。但BIST在测试期间,由于电路节点跳变会导致较多功耗的产生,进而影响被测器件的可靠性和产品的成品率,因此,低功耗BIST日益成为研究的热点。　　本文在分析BIST结构和功耗模型的基础上,针对基于线性反馈移位寄存器(Linear Feedback Shift Register,LFSR)的插入式矢量生成结构,提出了采用技术最成熟的进化算法(Evolutionary Algorithms,EA)――遗传算法(Genetic Algorithms,GA)优化的低功耗BIST方案。通过遗传算法的全局寻优操作得到插入式低功耗BIST矢量生成结构的中间矢量的数目和每个矢量变化的位置,其作用是在保障故障覆盖率的前提下,减少待测电路中输入端信号的翻转次数,达到低功耗测试的目的。本文工作的特点是,在插入式测试矢量生成的研究中,采用最简洁的LFSR结构开展基于进化算法(遗传算法)的优化设计。这样将有利于精简测试结构,减少其硬件占用。　　验证结果表明,低功耗BIST矢量生成结构经过遗传算法优化后,在保证故障覆盖率的同时,能有效的减少峰值功耗、平均功耗和总功耗,特别是峰值功耗的降幅与优化前的低功耗BIST矢量生成结构相比效果更加显著。该设计有一定实用性,对电子测试领域的发展具有积极的意义。　　论文最后对研究成果进行了总结,指出其中的不足之处,并展望了未来的研究方向。