X射线由于其短波长和极强的穿透能力自从被发现以来,逐渐受到全球不同领域科学家们的重视。现在X射线已经成为各领域科学研究中不可或缺的研究工具,在空间探测,医疗、能源、航空航天等领域有着比较广泛的应用。在空间探测领域中对空间辐射的x射线探测和分析已经成为了空间科学研究的热点问题。x射线光谱仪是等离子体诊断和太空探测的重要工具,而X射线衍射光学元件是X射线光谱仪的核心元件。因此对于X射线衍射光学元件的研究也逐渐成为科学研究的焦点。此外X射线衍射光学元件在激光惯性约束聚变、同步辐射、天文望远镜等领域也有着广泛的应用。本论文针对X射线衍射光学元件在惯性约束聚变实验中的等离子体诊断以及在X射线光谱仪中的应用,研究了衍射光学元件衍射性质,并成功的设计制作了高宽比10：1的大高宽比X射线波带片和6666线/毫米的X射线高线密度光栅。通过数值模拟获得了大高宽比波带片的衍射强度分布和衍射图样,计算得到了高宽比波带片的衍射效率,最终通过改善高宽比提高了波带片对高能x射线的衍射效率。我们还对6666线/毫米的高线密度光栅进行了衍射效果的测试。通过实验我们获得了明暗相间的衍射条纹,并计算了光栅的衍射效率。结果表明通过测试我们在300nm的厚度下,测试结果与理论结果基本一致,并在2KeV～5KeV的X射线能量下可获得接近10%的衍射效率,可以用于2KeV～5KeV能量范围内的谱学研究。