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本文采用溶胶凝胶法制备了先驱体Fe203薄膜,再通过硫化制得FeS2薄膜。采用原子力显微镜对不同硫化温度制备的薄膜表面粗糙程度的演变进行了研究,分析了面缺陷(表面、晶界)和点缺陷(空位、间隙原子)对FeS2薄膜光电性能的影响。应用阻抗谱定量地研究晶粒和晶界对不同厚度FeS2薄膜电学性能的贡献和影响。对于不同厚度FeS2薄膜的微观组织和光学性能也进行了研究。另外,本文采用硫化水热法制备的先驱体Fe203纳米棒的方式分别制备了FeS2纳米棒和薄膜,并研究了硫化参数对FeS2微观组织、光学、光电流响应等性