本文针对SiO₂陶瓷结构件在航空航天以及汽车领域的应用,分别采用了AgCuTi钎料和TiZrNiCu钎料对SiO₂陶瓷与30Cr3SiNiMoVA高强钢和TC4钛合金进行了钎焊连接。采用试验研究和理论分析相结合的方法,进行了钎焊连接工艺优化,研究了三种接头的界面层结构的变化及其对抗剪强度的影响。利用电子探针、扫描电镜、X-射线衍射等方法对连接界面的生成相进行分析,结果表明:SiO₂陶瓷/ AgCuTi/ 30Cr3SiNiMoVA高强钢接头的界面层结构为SiO₂陶瓷/ TiSi₂+Ti4O7/ Ti₂Cu+Cu3Ti3O/ Ag（s. s）+Cu（s. s）/ TiFe₂/ 30Cr3SiNiMoVA钢;SiO₂陶瓷/ TiZrNiCu/ TC4钛合金接头的典型界面结构为:SiO₂陶瓷/ Ti₂O+Zr3Si₂+Ti5Si3/ （Ti, Zr）+TiZrNiCu/ Ti（s. s）/ TiZrNiCu+Ti（s. s）+Ti₂（Cu, Ni）/ TC4钛合金;SiO₂陶瓷/ AgCuTi/ TC4钛合金接头的典型界面结构为:SiO₂陶瓷/ TiSi₂+Ti4O7/ TiCu+Cu₂Ti4O/ Ag（s. s）+Cu（s. s）/ TiCu/ Ti₂Cu/ Ti+Ti₂Cu/ TC4钛合金。依据所观察到的不同工艺参数下的界面层结构,研究了界面层结构的变化和界面的形成机理。分析了活性钎料与SiO₂陶瓷的反应过程、以及接头的界面形成过程。与30Cr3SiNiMoVA高强钢相比,TC4钛合金母材对接头界面结构变化的影响更大。采用抗剪强度评价了接头性能,结果表明:当钎焊温度为900℃、保温时间为5min时,SiO₂陶瓷/ AgCuTi/ 30Cr3SiNiMoVA高强钢接头和SiO₂陶瓷/ AgCuTi/ TC4钛合金接头的最高抗剪强度分别为37MPa和₂7MPa。而当钎焊温度为880℃、保温时间为5min时,SiO₂陶瓷/ TiZrNiCu/ TC4钛合金接头的最高抗剪强度为₂3MPa。通过扫描电镜、能谱分析等手段分析了工艺参数对接头的断裂路径的影响,结果表明:接头主要断裂在两个区域,即SiO₂陶瓷母材和SiO₂陶瓷/钎料界面的反应层处,断裂均为脆性断裂。