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本论文采用压电响应扫描力显微镜(Piezoresponse-SFM,PFM)研究纳米尺度下铁电薄膜和纳米岛的电畴结构及其运动规律。研究内容包括PFM 实验仪器的优化、纳米电畴结构的重现和电畴运动过程的实时原位观测。从研究手段上,实现了电畴观测的5nm 分辨率并发展了电畴运动过程的实时观测方法。进而,利用高分辨PFM 研究了铁电薄膜的电畴结构和电畴运动机制。发现薄膜中晶粒的结晶取向、晶粒大小和晶粒边界条件直接影响其电畴的形态复杂程度。薄膜中复杂畴态的存在,很容易形成直接相接的正交a-a 畴壁。这些畴壁