随着集成电路设计和制造技术的不断进步,芯片的集成度和复杂度正按照摩尔定律的速度持续提高。尤其是超深亚微米(VDSM)工艺的使用,生产过程中出现的故障也越来越多样、难测。芯片测试遇到了前所未有的挑战,已成为制约整个行业发展的瓶颈。在这种情况下,从故障类型、测试设备及测试成本考虑,可测性设计(DFT)技术成为解决芯片测试问题的主要手段之一,日益引起人们的重视。论文主要针对嵌入式系统随机存储器的测试,研究解决办法。首先,介绍了数字集成电路和存储器及测试技术发展现状、趋势。论述了存储器的基本结构、分类、故障模式和故障模型。然后,研究分析了存储器测试的方法,产生测试图形的各种测试生成算法,按图形的测试长度与存储单元大小关系分类举例介绍。这些测试算法,复杂程度不同,故障覆盖率也不同。详细分析了March算法,并将其扩展成能面向字存储器测试的算法。内建自测试(Built-In-Self-Test,BIST)技术被认为是解决由于电路集成度越来越大所造成的测试费用巨大和测试访问困难等问题的最有希望的技术。本文针对存储器测试采用MBIST。MBIST是目前大规模存储器测试最通用的方法,该方法将BIST逻辑电路嵌入芯片内部,实现片上BIST结构,本文实现了BIST电路的控制器、地址产生器、向量生成器、响应分析器等电路,最终实现片上自动测试存储器。本文采用VHDL程序仿真BIST结构,并仿真一个随机存储器,将各种故障加入其中,采用March C算法,结果表明该方法能覆盖多数故障,从而验证基于March算法BIST结构测试的有效性。