随着现今的科技越来越发达,电路板的设计越来越精密化;同时,电路板的管脚越来越密集,电路板的内部构造也越来越复杂化。通过研究发现数字电路板的内部结构相对简单,其内部仅通过数字信号“0”或“1”,因此通过对比输入和输出信号的“0”、“1”状态,就可以知道电路板内部引脚的故障问题。同时由于电路板引脚逐渐高密度化,内部结构逐渐复杂化,相对电路板内部引脚进行测试的困难程度也就越来越大,对电路板进行测试的电路板测试系统也应随着电路板的更新而不断改进。因此采用可测试性技术中的边界扫描测试技术作为测试系统的测试方法,研究设计了可以产生同时符合IEEE 1149.1和IEEE 1149.7标准测试信号的边界扫描控制器,并且对USB通信接口模块以及一些外围电路进行了研究设计,设计的边界扫描控制器具有较高的测试效率,并且可以与上位机进行信号通信同时兼容不同电平的数字电路板,使测试结果可以与上位机进行通信并且对于不同电平的电路板兼容;同时设计了一种应用边界扫描技术的抗误判低混淆自适应算法,设计的自适应算法根据算法的设计原理可以对电路进行分级测试,同时算法的紧凑性相对较低,在一定程度上可以达到log₂（N+2）,设计的算法具有抗误判性,检测中出现故障混淆现象的概率较低,同时具有较高的故障覆盖率和测试速率;研究一种簇测试方法,使非边界扫描器件在测试系统运行过程中也可以被检测,提高测试系统的测试覆盖范围。