在频域光学相干层析(Spectral Domain Optical Coherence Tomography,SDOCT)系统中,为了在横向和纵向两个方向均获得高的分辨率,需要采用大数值孔径的物镜。这时,仅位于物镜焦深范围内的结构有高横向分辨率,在焦外分辨率降低。干涉合成孔径显微术(ISAM)是一种三维图像重构算法,可以消除离焦区的图像模糊,达到在所有成像深度中都可以获得焦平面处的横向分辨率的效果,可以解决SDOCT中系统的横向分辨率和成像深度之间的矛盾。本文分析了 ISAM重构算法的原理和适用的范围,对比分析了传统SDOCT成像算法和经过ISAM重构算法处理的成像图像结果。为了减少算法运算时间,本文将非均匀傅里叶变换(NUFFT)引入了 ISAM算法,实验结果表明了该方法节省了算法的运算时间,给实时成像高分辨率SDOCT系统成像提供了基础。其次,为了检测光学元件的亚表面损伤,将全内反射法(TIRM)和SDOCT两套系统联合来进行检测和评估分析,本文提出了一套标定和测量的方法并进行了实验。实验通过标定双系统的探测臂位置使之可以对同一点先进行粗定位后进行精确的层析成像,得到对亚表面损伤进行表征的参数。