随着集成电路设计与制造工艺的不断进步以及单个芯片集成度的提高,特别是片上系统SoC(System-on-a-Chip)的出现,使得电路系统上所集成的IP(Intellectual Property Core)核越来越多,SoC系统的复杂度迅速上升,由此所造成的测试芯片所需要的测试数据量也在日益增加。然而由于传统的自动测试仪ATE(automatic test equipment)的存储量、工作频率、传输带宽的限制,造成SoC测试面临如下的问题:测试难度增大、测试时间过长、测试功耗过高、测试成本难以接受等。针对这个情况,测试数据压缩方法提供了有效的解决方案,使得SoC测试数据量过大、测试时间、测试功耗等问题等到缓解。本文正是围绕这些问题展开研究。本文先介绍了SoC测试的相关基础知识,同时作了理论上的分析。针对于测试立方集中含有大量的连续数据块,随后给出了一种基于无关位动态赋值的幂次划分测试数据压缩方法。本方法的基本思想是:把测试数据按照2的幂次长度划分为四种类型,对分块中的无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码。此方法有效的利用测试集中大量的连续数据块,并且解压结构简单容易实现。与传统的编码压缩方案相比,本方法能进一步提高数据压缩率。针对于传统的线性反馈移位寄存器LFSR(Linear Feedback Shift Registers)重播种方法随机的填充测试集中的无关位,从而造成测试向量中相邻位间过多的跳变所引起的过高测试功耗这个问题,本文给出了一种基于分块编码的LFSR重播种方法。首先采用邻位填充法填充测试向量中的无关位,然后把经过填充后的测试集进行等长分块编码,最后采用LFSR方法来进行编码压缩,求得相应的种子集并存储。实验结果表明,此方案不仅能够有效地对数据进行压缩,也可以降低测试过程中的移位功耗。