加速退化试验是研究电子产品可靠性的一种有效途径,它充分利用了产品性能退化过程中的可靠性信息,克服了加速寿命试验对失效寿命数据的依赖性等不足,从而可以取代使用失效时间数据进行可靠性评估。加速退化试验中的参数漂移研究是对退化及加速退化问题研究的一种新领域,它是建立在可靠性模型和退化失效数据分析基础上的一种研究方法。本文在可靠性理论模型的基础上,结合电子产品的失效特点,运用参数漂移、加速参数漂移、最小二乘、参数回归等方法,对电子产品中加速退化试验数据进行较为系统的统计推理,并进行了相关可靠性评估。最后用仿真法对建立的加速退化模型进行验证,说明了模型的适用性和可靠性评估方法的有效性。本文的主要成果及其创新有以下几点:1.建立了一种新的随机截距线性模型和随机斜率线性模型,并分别给出了两种失效标准下的可靠性结论;2.运用参数漂移分析方法建立了基于首达时间的退化数据统计模型,并运用最小二乘法进行了参数估计,同时给出了一个实例说明该模型的使用;3.运用加速参数漂移分析方法研究了加速退化失效问题,给出了基于最小二乘的退化过程统计模型和基于首达时间的加速退化数据统计模型,并用仿真方法对该模型的有效性进行了验证。4.在完善加速退化因子定义的基础上,讨论了两类加速退化因子之间的关系,给出了它们的一些重要性质,并提出了应用加速退化因子的折算公式,最后还对加速寿命试验和加速退化试验进行了比较分析。