用于光学元件面形检测和光学系统像差检测的夏克-哈特曼波前传感器，在标校过程中用一块平面反射镜或标准球面镜作为参考面。而在此过程中，一般将其视为理想状态，忽略了其本身所带误差。同时，夏克-哈特曼波前传感器的系统误差也从未单独标校出来。这也是本论文所需解决的问题。本文从绝对检测方法中选择了旋转-平移法，并对旋转-平移法对单阶的影响做了相应仿真分析，同时，将此方法用于夏克-哈特曼波前传感器系统误差的标定中。本文的主要研究内容如下：首先，对旋转-平移法本身，对前36阶各单阶像差进行了仿真，分析了仿真结果。从仿真结果可知，旋转平移法所涉及算法中，平移算法对最后的影响较大，即具有旋转对称性质的像差复原结果对最后复原结果影响较大。同时，旋转平移法本身精度很高，尤其是低阶次像差的精度。同时，将旋转-平移法运用到夏克-哈特曼波前传感器仿真中，仿真结果表明，此方法是可行的。同时，对平移量误差、旋转角度误差对精度的影响做了仿真分析。因为平移量误差大小对应的是有效数据损失量，所以平移量误差对精度的影响比较大，在实验中要尽量减小平移量误差。旋转角度误差只要控制在1°范围内，对精度的影响是很小的。在实验中，以不同角度为旋转角度测得三组数据，运用旋转平移法获得像差板面形误差，进而得到夏克-哈特曼波前传感器系统误差。实验证明，此方法是可行的。