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本文利用脉冲激光沉积法（PLD）制备了(La1-xPrx)0.7Sr0.3CoO3(x=0,0.2,0.4,0.6,0.8)系列薄膜和La0.82Sr0.18Co1-xCrxO3(x=0,0.2,0.4,0.6,0.8,1.0)系列薄膜，衬底为LaAlO3(100)单晶基片。通过 X射线衍射（XRD）、原子力显微镜（AFM）、低温测试系统等手段测试了材料的晶体结构、表面形貌、输运特性等。本文的主要工作及结论如下： 1.用固相反应法制备了(La1-xPrx)0.7Sr0.3CoO3(x=0,0.2,0.4,0.6,0.8)系列靶材以及La0.82Sr0.18Co1-xCrxO3(x=0,0.2,0.4,0.6,0.8,1.0)系列靶材，用X射线衍射对靶材的晶体结构进行了表征，将XRD图谱与标准PDF卡对比非常吻合，没有出现明显杂相，说明制备的靶材的质量是良好的。 2.用PLD法制备了(La1-xPrx)0.7Sr0.3CoO3(x=0,0.2,0.4,0.6,0.8)系列薄膜，介绍了制备工艺。运用 XRD、AFM对薄膜进行表征，测试了不同掺杂比例的薄膜材料在不同光照强度照射下的电阻-温度特性，以及不同光照强度照射下薄膜的光致电阻效应。 3.用PLD法制备了La0.82Sr0.18Co1-xCrxO3(x=0,0.2,0.4,0.6,0.8,1.0)系列薄膜，介绍了制备工艺。运用 XRD、AFM对薄膜的结构及表面形貌进行表征，测试了不同掺杂比例的薄膜材料在暗场条件下的电阻-温度特性，还测试了不同光照强度照射下薄膜的光致电阻效应。