CCD的应用广泛而深入,深刻影响着人们的生产、生活等各个领域。在激光与CCD相互作用领域,一定能量密度的激光辐照,可能导致CCD出现参数退化或功能损伤,定位损伤的具体位置和损伤的具体结构,对于激光与CCD相互作用的机理研究是必要的。由于CCD芯片的体积和封装等因素,破坏性的研究手段可能对CCD造成人为损坏,从而影响损伤机理的研究。近些年来国内外通常采用成像方式对CCD的损伤进行分析和研究,而CCD从感光到成像是通过一系列复杂和不可逆的过程实现,最终的图像也是通过复杂的编码方式呈现的,虽然可以进行一定的定位分析,但是无法对激光损伤的实验结果进行定量的测量。因此,需要设计研制出一套测量并分析CCD损伤情况的测试系统。本文首先介绍了国内外CCD测试系统的发展以及应用现状,详细描述了CCD芯片的微结构、成像理论、关键性能参数及损伤检测理论。在此基础上,采用光学系统与电学系统相配合,通过单点扫描测量方式,采用光电测量技术、嵌入式技术和虚拟仪器等技术手段,通过对暗电流和特征光谱响应度等主要参数的测量,定量地分析面阵彩色CCD的损伤结果,设计并实现了基于Camera LINK接口的CCD损伤检测系统。本文完成了系统硬件平台的搭建和软件相关程序的编写,通过改变光源辐照强度,系统调试显示能正常采集到像元光信号的变化。动态改变测试光源的波长,并对传入上位机的像元信号进行损伤分析,得到了比较好的实验结果,达到了课题预期的目标。