在测量颗粒粒径的多种技术中,光散射法以其特有的优势——适用性广、粒径测量范围宽、测量重复性好、快速实时、自动化和智能化程度高、干扰因素少、在线测量等——而得到充分重视,并在其相关技术——光电器件和计算机信息处理等技术——发展成熟的前提下得到了飞速发展和广泛应用。随着科学技术的日益进步和工业生产的不断发展,要求对颗粒粒径的测量下限进一步延伸和对颗粒粒径的测量范围更宽广。为了达到对超细颗粒的测量,世界一些主要激光测粒仪制造厂商在原有小角前向散射测粒仪的基础上,先后提出通过增大探测散射角范围和增设大散射角探测元件的构想,引入侧斜向散射测量手段(FSBS)。这种测量手段由于在前向、侧向、前斜向或后斜向同时设置了光电探测元件进行测量,因此本论文将这一测量方法称为全方位多角度光散射法。进入90年代后,英国、日本、美国等国家均向国际市场上推出了自己的产品,但出于技术保密的原因,有关这方面的技术细节极少见报导,国内迄今也不会生产。因此,开展这方面的研究以填补国内空白已显得十分必要和迫切,其社会意义和经济价值显而易见。本文工作分理论探讨和实验研究二方面进行。在第三章中介绍了小角前向散射法的测量原理,提出了测量下限的涵义,结合分辨能力、散射光能分布差异和仪器误差讨论测量下限,并介绍了延伸测量下限的手段。在第六章详细讨论了小角前向散射法中的二个重要问题——对中问题和输入折射率问题。第四章提出了全方位多角度光散射法测粒技术的理论模型,建立了散射光强度测量模式和散射光能量测量模式,并对测量下限展开讨论。第五章对全方位多角度光散射法进行模拟计算,详细研究数据处理过程中颗粒粒径范围的选择、粒径分档方法、优化计算目标函数的单值化以及侧斜向探测单元的数量和位置安排等技术细节。在第七章中分析了影响测量结果的几个主要因素。围绕延伸测量下限这一主题,开展了三方面的实验工作。在第八章中对富里叶反变换技术进行实验研究,第九章分别对全方位多角度光散射法散射光强度测量模式和散射光能量测量模式展开实验研究。详细讨论了样品池和分散介质对测量结果的各种影响,并在数据处理时给予修正。理论分析和实验研究证明,采用增大散射光信号探测角范围的方法可以使测量下限得到有效的延伸,其理论模型是可行的。相应的实验研究及其结果是可靠的。