空间辐射环境中的高能粒子会使航天器中的电子器件发生单粒子效应,严重影响航天器在轨运行的可靠性,因此针对单粒子效应的研究是电路可靠性领域的主要研究方向之一,随着电路集成度不断增大,单粒子效应导致的软错误逐渐成为影响航天器中电路正常功能的主要原因。针对单粒子软错误在电路中产生后如何传播并最终对电路的输出产生影响,本文解决以下三个关键问题:1、影响单粒子软错误在电路中的传播的影响因素问题。本文系统地分析了影响软错误在电路中传播的因素,分析了各个因素影响软错误传播的机理,并在北京HI-13串列静电加速器进行了模拟辐照实验,对本文分析的部分影响因素进行验证与探究。2、单粒子软错误在电路中的传播理论问题。本文在分析单粒子软错误传播机理的基础上,对单粒子软错误在电路中的传播进行建模。首先,提出了软错误传播六元组模型,可以对软错误进行描述,对软错误传播行为模式理论进行了丰富和扩充。在此基础上,本文对软错误在电路中的重汇聚耦合效应进行描述,提出了一种基于逻辑单元分层的重汇聚描述方法,可以为重汇聚的建模仿真提供新的思路;本文还对软错误在电路中的逻辑屏蔽进行描述,提出了一种节点概率算法,通过提前计算好电路中每个节点的取值概率,作为先验知识对软错误量化进行快速评估,可以应用于对计算速度要求高的环境。3、电路软错误传播量化问题。针对节点概率算法设计了软错误量化评估软件,考虑逻辑屏蔽和电气屏蔽因素对组合逻辑电路的影响,对软错误率进行快速评估,和国外相关文献对比,本文方法是合理的。