红外热波无损检测技术是主动式红外热像技术中备受关注的创新性技术,对各类缺陷具有较强的检测能力,被广泛应用于航空航天器及军、民工业设备的检测,我国也将该技术列入了国家863高科技发展计划。红外热波无损检测技术采用脉冲式热激励,热激励时间短、能量低,对表面及近表面缺陷检测效果好,但对较深缺陷可检性差。针对这一问题,本文以红外热像技术为基础,深入探讨了持续热激励条件下被检测物较深缺陷对表面温场的影响机制,求解了持续热激励升温阶段介质内热传导微分方程,并通过实验验证其解析解。此外,根据解析解分析了持续热激励红外热像无损检测技术对较深缺陷的检测原理,进一步研究了持续热激励升温和降温阶段数据处理方式,为持续热激励红外热像无损检测技术奠定了理论基础。通过调查研究,本文还研制出一套持续热激励红外热像无损检测设备,并对设备的热激励均匀性进行了检测。为了进一步验证持续热激励红外热像无损检测技术原理的正确性及持续热激励红外热像无损检测设备的检测能力,本文选取了脉冲式热激励红外热波无损检测技术难以检测的试件,应用所研制的持续热激励红外热像无损检测设备对它们进行了检测,并对检测结果进行深入分析。检测结果表明,持续热激励红外热像无损检测设备对较深缺陷具有较强检测能力,它的研制拓展了红外热像无损检测技术的应用范围,具有重要的意义。