随着集成电路技术的飞速发展，集成电路规模的迅速扩大，数字集成电路设计与验证工作正面临着越来越多的挑战。芯片的功能验证，在芯片的开发周期和工作量中，其占据的比例甚至超过了设计工作。因此，对验证方法的充分研究，对提高验证质量和效率有着重要意义的。论文在分析集成电路开发流程以及相应工具的基础上，讨论了功能性验证的重要性、面临的挑战和业界主流的验证方法学的发展历史沿革，阐明了验证方法学发展的重要性和必要性。对比分析了两种主流的验证手段-直接测试和随机测试，给出了覆盖率驱动的验证思路。详细分析了基于覆盖率的开放验证方法学OVM的构成、类库及OVC，基于分块验证的思想对OVC进行类型划分，以及对interface OVC的功能和作用做相应的分析，给出了OVM验证方法学中的检验方式、断言的控制方法、激励的产生和环境的例化方式。论文从可复用的角度分析讨论了OVM方法学的关键特性，基于OVM的验证平台中检测方式，以及搭建验证平台过程中的可复用、可配置性，给出了对应的解决方法，研究了OVM平台中OVC的可复用性，其纵向集成的出发点和解决方法。针对XBUS总线，搭建了OVM验证平台，给出了验证结果并给予分析。最后实现了从OVM验证方法学平台到UVM验证方法学平台的转换。本文还讨论了OVM验证方法学与UVM验证方法学的联系。对目前的验证技术的发展做了总结，并为之后的验证发展方向做了前瞻性展望。