图像传感器是能感受光学图像信号并转换成电信号输出的器件。图象传感器主要分CCD (Charge Coupled Device,电荷耦合元件)和CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体元件)两种类型。由于工艺的不同CCD不方便将图象传感电路和控制电路集成在一起。CMOS图象传感器由于图像单元和控制单元都采用CMOS工艺,因此能集成在一块芯片上。由于CMOS图像传感器的应用越来越广泛,完全超过了CCD市场,因而CMOS图像传感器设计制造时对成本控制的要求越来越高。CMOS图象传感器测试与一般的逻辑电路不同,它还需要光学测试,导致整个测试系统与一般的测试系统不同,需要在测试时提供光源,以及需要对测试芯片输出的图像数据的采集处理系统,比如图像采集卡。因此图像传感器芯片的测试成本相对较高。本文主要研究对CMOS图像传感器的wafer级测试进行多个方面的改进,引入针对图像传感器的并行测试系统,降低测试时间。从选择自动测试机的型号,测试系统硬件设计到最大同测数的设计都是为了有效的降低测试成本。