近年来片上系统SoC（System on Chip）设计的集成度和复杂度不断提高,从而对SoC验证技术的要求也随之提高。芯片验证是SoC开发流程中的重要一环,传统的验证方法规范性较差,验证效率低下,使用科学的验证方法提高验证的效率和完备性尤为重要。本文以SoC的整体架构为基础,以提高验证覆盖率和验证效率为目标,基于UVM（Universal Verification Methodology）验证方法学,结合芯片模块级验证和SoC系统级验证的特点,选择SoC系统通信外设接口模块为待测设计（DUT）,搭建可重用的外部通信接口验证平台。本文设计的验证平台可根据不同测试需求对验证平台内部的组件模块进行增删修改,应用于其他外设接口或其他芯片项目中。从而提高了验证效率,缩短了芯片开发周期。本文主要工作如下:1.基于SoC芯片架构,使用UVM验证方法学搭建验证环境,开发通用组件,搭建了可重用的UVM模块级和系统级验证平台。2.选择SoC外设接口模块UART作为DUT,根据总线协议特性,明确验证思路,对测试点进行分解,合理规划用例,开发UART＿UVC应用到上述验证平台中。随后根据验证方案对UART接口进行基于覆盖率驱动的功能验证及带有Cortex-M0内核的系统级验证。3.平台重用性测试。根据外设接口I2C协议开发I2C＿UVC组件,基于UVM的架构特性,替换验证平台中的UART＿UVC,搭建I2C验证平台,并对I2C实施基础功能验证。4.验证结果分析。根据仿真结果打印、仿真波形、功能代码覆盖率进行分析总结,结果表明验证平台工作正常,UART、I2C模块功能正确,覆盖率达到预期要求,证明了本文设计的可重用验证平台的正确性和有效性。