集成电路广泛应用于工业生产、移动通信、便携支付等社会发展的各个领域。其在不断发展的同时,引发的安全问题也日益严重,集成电路安全受到广泛关注。集成电路的安全威胁主要来自侧信道攻击和故障注入攻击。故障注入攻击作为一种新的集成电路攻击技术,攻击能力强、所需时间短,逐渐成为集成电路攻击最有效的手段。抗故障注入攻击技术可以确保芯片内部信息安全,包括物理隔离、环境监测及故障检测等技术。基于冗余计算的故障检测技术由于无需额外设备、成本较低而被广泛使用,包括空间冗余、时间冗余及信息冗余。与空间冗余和时间冗余相比,信息冗余所需资源和时间成本均较低,然而故障检测率也有所降低。因此,寻找一种高故障检测率、低资源消耗的故障注入检测方法显得尤为重要。本文对故障注入检测方法进行以下三点研究。首先,提出一种混合粒度奇偶校验故障注入检测方法,该方法结合故障注入情况对电路不同部分采用不同粒度奇偶校验检测。其次,提出一种字重组奇偶校验故障注入检测方法,该方法将故障敏感路径与故障不敏感路径的字进行混合,重新组成新的字,并对其进行奇偶校验检测。最后,提出一种基于局部重布局的奇偶校验故障注入检测方法,该方法将局部故障注入攻击范围内的寄存器重新布局,使属于同一字中的寄存器数目为奇数。将以上三种故障注入检测方法应用于RC5加密算法并在FPGA上实现,实验结果表明,与传统字奇偶校验相比,混合粒度奇偶校验故障注入检测方法故障检测率提高29.44%,资源消耗仅增加2.48%;字重组奇偶校验根据重组路径数,可以用更少的资源获得与相应粒度奇偶校验相同的故障检测率;在一定故障注入攻击范围内,局部重布局奇偶校验在不增加资源使用的情况下,可以检测到所有故障。以上三种方法均实现了故障检测率及资源使用的折衷。