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荧光无辐射能量转移(简称FRET),是指在体系内标记上荧光基团给体和受体,当给体和受体之间的距离在有效范围内时发生无辐射能量转移,能量转移效率通随着给体和受体之间距离的变化而变化。由于受体和给体之间敏感的距离,FRET方法为分子内部结构和分子间相互作用的测定提供了一条直接、简便、灵敏的途径。本论文发展了一种新的界面表征手段:将荧光基团分别标记在高分子链和基底上,通过FRET方法研究了二维纳米孔道受限态下基底界面处高分子链和基底的相互作用。我们将荧光受体接枝在AAO上,荧光给体接枝在高分链上,将熔融状