目的：　　通过对上颌第一磨牙压低前后的锥形束计算机断层扫描(CBCT)进行分析，研究上颌第一磨牙与上颌窦底不同位置关系中上颌第一磨牙的压低量，牙根吸收程度以及上颌窦的变化情况，对临床中相关正畸治疗提供依据。　　方法：　　按照下述纳入和排除标准，收集2016年9月-2018年1月于郑州大学第一附属医院口腔正畸科接受上颌第一磨牙压低的60例患者治疗前CBCT影像，根据上颌第一磨牙与上颌窦底壁的关系，分为三组，A组(上颌第一磨牙所有根尖均远离上颌窦，即d＞0mm)20例，B组(上颌第一磨牙至多所有牙根与上颌窦关系密切，即d=0mm)20例，C组(上颌第一磨牙至少有一根突入上颌窦内，即d＜0mm)20例，并收集压低治疗结束后相对应的CBCT影像，通过invivo5.2软件测量上颌第一磨牙压低量，分析根尖吸收情况，上颌窦变化情况，并使用SPSS20.0软件进行统计学分析。　　结果：　　1、上颌第一磨牙各牙根与上颌窦的关系：所有实验牙中，腭根，近中颊根及远中颊根突入上颌窦底(d＜0mm)的比例依次为11.11％，6.11％，4.44％;腭根，近中颊根及远中颊根接触上颌窦底(d=0mm)的比例依次为9.44％，10.56％，8.89％;腭根，近中颊根及远中颊根远离上颌窦底(d＞0mm)的比例依次为12.22％，17.22％，20.00％。　　2、压低情况：A组实验牙正畸后，近中颊根压低量为（2.71±0.57）mm，远中颊根压低量为（2.44±0.38）mm，腭根压低量为（2.33±0.52）mm;B组实验牙正畸后，近中颊根压低量为（2.67±0.54）mm，远中颊根压低量为（2.67±0.52）mm，腭根压低量为2.48±0.51）mm;C组实验牙正畸后，近中颊根压低量为（1.92±0.59）mm，远中颊根压低量为（1.9±0.65）mm，腭根压低量为（1.84±0.57）mm。A，B组压低量之间无统计学意义，C组与A，B组压低量之间均有统计学意义，A组，B组和C组各组组内三个牙根压低量之间无统计学意义。　　3、牙根吸收：正畸治疗后，A组中，近中颊根，远中颊根及腭根牙根吸收程度集中于无明显吸收及轻度牙根吸收的程度，只有10％的腭根出现中度牙根吸收;B组中，有10％的近中颊根出现中重度吸收，20％的远中颊根出现中重度吸收，25％的腭根出现中重度吸收，5％的腭根出现极重度吸收;C组中，25％的近中颊根出现中重度吸收，5％的近中颊根出现极重度吸收，60％的远中颊根出现中重度吸收，5％的远中颊根出现极重度吸收，70％的腭根出现中重度吸收，5％的腭根出现极重度吸收。　　4、上颌窦的变化：A组压低前后上颌窦无变化，B组在治疗后新增3例上颌窦底皮质骨不连续现象，新增2例黏膜增生现象，C组压低后新增4例黏膜增生现象。　　结论：　　1.上颌第一磨牙的三个牙根中，腭根与上颌窦关系更为密切。　　2.上颌第一磨牙有牙根进入上颌窦底的压低量低于牙根贴近或远离上颌窦底的压低量。　　3.上颌第一磨牙有牙根进入上颌窦底压低前后其牙根吸收程度高于牙根贴近或远离上颌窦底的牙根吸收程度，其中腭根吸收最明显。　　4.上颌第一磨牙与上颌窦关系越密切，压低后上颌窦骨皮质及黏膜更易改变。