随着集成电路的快速发展,电路的设计方法已经到了很高的抽象级,使得测试面临的问题也越来越多,在众多的测试技术中边界扫描测试越来越多的受到人们的关注。本文首先描述了现在边界扫描的整体研究背景,目前国内外的研究现状和现在的发展趋势。依据现有的电路测试方法进行总结,从整体性介绍了现有的测试方法,并且对现在的每一种测试方法进行简要的介绍和总结并给出其测试的优缺点。本论文主要针对目前边界扫描技术测试技术进行着重的介绍,从最基本的IEEE 1149.1测试方法介绍其基本结构和适用的电路模型。沿着历史的发展,目前边界扫描测试技术已经发展到IEEE 1500标准,本论文着重介绍IEEE 1500标准边界扫描测试方法。本文的研究主题是基于IEEE 1500测试标准,整体性的介绍IEEE 1500测试标准的概况和其可扩展的核心测试架构,并对此架构中的时钟脉冲滤波器进行研究,给出两个时钟域的时钟脉冲滤波器的模型,对其模型和理论仿真结果研究出时钟脉冲滤波器结构。对IEEE 1500测试标准上做了一定的改进,对输入和输出寄存器进行一定的改进,让其通过转换复用器信号而不是触发更新事件来达到转换信号的目的。其次对时钟控制电路进行一定改进,并给出延迟测试的时钟控制器模型。对IEEE 1500核心的TAP控制器中的16位有限状态机进行一定的改进并对改进后的状态机仿真得出结果。对延时故障测试序列的给出一定的说明并给出仿真结果。最后,总结前文的工作内容提出整体的改进架构,并将测试序列添加到TAP控制器控制中得到仿真结果,根据仿真结果给出延时故障时间的计算公式,依据研究结果给出面积与电路延时故障之间的关系。