随着集成电路规模不断扩大,芯片上晶体管的集成度越来越高,芯片测试越来越困难,测试数据量越来越大,测试成本越来越高。如何提高测试压缩率,降低测试成本成为集成电路测试应考虑的一个重要问题。本文围绕着这个问题提出了如下两种测试压缩方法。(1)IFDR编码是一种能同时对0游程和1游程编码的改进型FDR编码方法,在一定程度上提高了压缩率,但没有考虑等游程的情况。本文在IFDR的基础上进行改进,提出一种基于游程相等编码的FDR(ERFDR)方法。首先,该方法不仅能同时对原测试集的0游程和1游程进行编码,而且相邻游程相等时可以用较短的码字来代替,从而进一步提高了压缩率。其次,本文还提出针对该压缩方法的测试集X(无关位)填充算法,增强提出方法的压缩效果。实验结果表明,与Golomb,FDR,EFDR,IFDR相比较,提出方法获得更高的压缩率,降低了测试费用。(2)EFDR-BC码针对测试集中许多测试向量仅有少数位不相容的特点,将相容性好的向量分在一组,进而只需要保存模板向量和差异向量。该方法取得较好的压缩效果,但多个向量压缩为一个向量,需要保存的信息较多,压缩率反而受损。本文基于此提出一种改进的EFDR-BC压缩方法。首先,定义了向量间的距离。其次,提出测试向量两两合并算法。在该算法中,以向量的距离为权值,选择距离最近的两个向量两两合并。最后,结合ERFDR方法,提出一种改进型EFDR-BC码和组向量编码,并分别对合并后的向量编码。实验结果表明,与Golomb码、FDR码、EFDR码、EFDR-BC等方法相比,提出方法提高了测试压缩率,验证了提出方法的可行性。本文提出了两种有效的测试压缩编码方法,提高了压缩率,降低了测试数据量,进而降低了测试成本。