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近年,随着USB插接件被广泛使用在电脑外设、通讯设备品等诸多领域,有关其失效导致设备损坏的报道日益增多,对USB插接件的性能和可靠性要求也在不断提升。传统的USB插接件可靠性检测耗时长,效率低下,本文提出了基于人工神经网络的USB插接件的寿命预测方法,并对其相关性能实验进行了研究。论文的主要研究内容如下：(1)研究了USB插接件的接触原理和失效机理,分析了接触电阻与插拔力对USB插接件使用寿命的影响,以此作为USB插接件寿命预测的基础；(2)鉴于USB插接件的使用寿命与插拔力、接触电阻等因素具有一定