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光学成像系统是一种重要的光学信息传递和处理系统,在很多领域有着广泛的应用。传统的光学成像系统是物面、镜头主面和像面互相平行的光学系统,但在一些成像系统中物面与镜头主面和像面是不平行的,所以倾斜成像系统的研究很有意义。倾斜成像系统广泛应用于粒子场测量,干涉粒子成像(IPI)系统是其中主要的应用。IPI系统的采样体积是研究粒子数浓度的基础,聚焦IPI系统的采样体积与成像系统的景深有关,而离焦IPI系统的采样体积与成像系统的景深无关。本论文研究聚焦和离焦IPI系统采样体积的计算公式和测量方法,搭建聚焦和离