大口径光学材料的双折射检测在高功率激光材料生长和加工中具有重要应用，其加工和制造过程中更是难以避免应力的影响，例如大口径的钕玻璃应力不均匀的情况下会产生调制光束从而影响整个ICF驱动器的负载能力，大口径的晶体的倍频效率也会大幅度的降低。在大口径的光学材料及元件的制造中，精确确定应力双折射及其空间分布是极其重要的。　　利用米勒矩阵分析了四步干涉测量方案的原理，搭建了小口径光学玻璃测量光路并进行应力定量测试，通过实验验证了该方案对于消除光学元什不均匀的影响有很好的效果。　　针对大口径光学材料的特点采用了基于球面反射镜的测量方案。分析了发散的球面波往返样品两次产生的径向相位误差，并且推导出不同发散角的球面波产生的径向相位误差解析表达式，对大口径晶体材料应力测量产生的误差提出了校正算法。　　分别对大口径光学玻璃进行了静态应力和动态应力测量。利用相干光对样品进行了定量测试，得出了整个玻璃二维平面上的应力分布，同时利用白光光源提取了应力测量图样，将白光与相干光的图样进行了比对。分别对光学玻璃施加外力和热的作用对其应力变化进行动态测量，并且将白光和相干光的动态图样进行比对。