【摘 要】
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该文利用北京谱仪(BES)1999至2001年间在北京正负电子对撞机(BEPC)收集到的5800万J/Ψ数据,研究J/Ψ衰变的轻子味破坏(Lepton Flavor Violation)过程:J/Ψ→eμ,μτ,eτ,并
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该文利用北京谱仪(BES)1999至2001年间在北京正负电子对撞机(BEPC)收集到的5800万J/Ψ数据,研究J/Ψ衰变的轻子味破坏(Lepton Flavor Violation)过程:J/Ψ→eμ,μτ,eτ,并估算它们的分支比上限.研究观察到4个J/Ψ→eμ的候选事例,并且利用SIMBES确定了选择效率(除粒子鉴别效率外).从J/Ψ数据中选取了电子样本, μ子样本,π样本以及K样本,来确定粒子鉴别效率以及粒子误判效率,从而确定选择效率以及本底.最后,在90﹪置信度下,得到J/Ψ→eμ的分支比上限为1.1×10<-6>.研究观察到2个J/Ψ→μτ,τ→evv的候选事例,并且利用SIMBES确定了选择效率以及本底.最后估算了J/Ψ→μτ,τ→evv的分支比上限为1.6×10<-6>,这样就可以估算出在90﹪置信度下J/Ψ→μτ的分支比上限为9.9×10<-6>.研究观察到3个J/Ψ→eτ,τ→μvv的候选事例,并且利用SIMBES确定了选择效率以及本底.最后估算了J/Ψ→eτ,τ→μvv的分支比上限为2.1×10<-6>,这样就可以估算出在90﹪信度下J/Ψ→eτ的分支比上限为1.2×10<-5>.该文还给出了研究LEV过程的物理意义以及一些讨论.
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