设计技术、制造技术和测试技术并称为集成电路的三大关键技术。随着技术的发展,特别是LSI、VLSI和SOC的出现,集成电路实现的功能日益强大,其内部结构的复杂度也不断提高。测试难度也成指数增长,测试成本占整个IC成本比重也越来越大。测试技术,除编制测试程序,提取测试向量外,更重要的是在芯片测试过程中,通过对电路参数的测试及功能分析,可以验证设计,进行故障诊断与定位、分析工艺偏差,进而缩短项目的研制周期。本文详细介绍了LC82380的测试方法。LC82380型高性能32位DMA控制及系统支持辅助电路采用1.2微米硅栅CMOS工艺制造,芯片面积约为7.4mm╳7.2mm。采用陶瓷针栅阵列PGA132封装。外部输入时钟为50MHz。其内部主要由DMA控制器(82C37)、中断控制器(82C59)、可编程间隔计时器(82C54),DRAM刷新控制器,等待状态产生器,系统重置电路组成。本文针对LC82380管脚多,功能复杂等特点提出使用模块划分法进行功能测试,针对每一个功能块进行独立编程,独立分析。这样既有利于进行故障分析和定位又使其复杂的功能简单化。直流参数是反映CMOS电路的质量和工艺水平的最主要的参数之一。本文详细介绍LC82380规范要求的几种直流参数的测试方法及测试的目的。同时还提出了在测试直流参数时可以缩短测试时间的几种技巧。交流参数是要求数字电路在给定输入的情况下能在规定的时钟周期内输出正确的响应。本文介绍了几种常用的测试交流参数的方法。利用其不同的特点测试不同的交流参数可以提高测试效率。通过以上方法的综合使用解决了LC82380在测试中所遇到的功能复杂、测试向量多、测试时间长、测成本高等难点。