在生产测试过程中,需要对芯片进行各种测试。一旦测试出现问题,很可能要对单颗微处理器进行详细的分析和测试。市场上现有的普通编程器不足以满足测试的需求,而大型测试器器主要用于成批芯片的成组测试,用来测试单颗微处理器在使用上非常复杂,而且浪费资源,既会增加芯片的生产成本,也会影响芯片的正常出货时间。本论文实现了国内首个为芯片生产者设计的专用FLASH测试器,其功能远远多于普通编程器,并首次将整合测试功能并入小型测试器,使其可以运行一系列独立程序,且支持简单指令。本论文还实现了多种缓冲输入设计,并可读取S19文件中数据,极大的方便了用户操作。论文所研制的FLASH测试器其硬件和软件都是专门为芯片生产中分析芯片失效原因而设计的。它的硬件电路比一般的FLASH编程器具有更强的测试性和更好的扩展性。尤其是容易出问题的FLASH部分,更是进行了专门设计,使其既可以使用测试器自带程序进行测试,也可以自行编写应用程序完成测试。同时,还根据硬件的特点专门编写了相应的软件,突出其测试的多元性,并具有友好的界面,易于使用。通过此FLASH测试器,可以实现S19文件的相关处理,测试芯片FLASH区域相关的各种操作,并实现了多项测试的组合操作。该FLASH测试器现已开始在FREESCLAE公司广泛应用,获得很好的效果。