在光通信技术快速发展的历程中，通信光源是光纤网络中必不可少的成员。光芯片是通信光源的核心，可调谐激光器则是重要的光芯片成员。性能优质、价格低廉的可调谐激光器是科研工作者们共同追寻的目标。本实验室提出的V型耦合腔可调谐半导体激光器就具备了上述特点，具有很大发展前景。　　为解决手动单调的芯片测试工作，提高批量生产的效率，针对于该种可调谐激光器的裸片，本文研发了自动化在片测试系统，以Unit为测试单位，实验验证了在片测试的可行性;设计了测试方案;采用SolidWorks完成了系统机械部分的硬件设计，主要有探针臂、芯片夹具、光纤夹具等，选型恰当的测试、控制仪器，为系统提供硬件条件;采用LabVIEW完成了系统的软件设计，采用生产者消费者模型，利用队列状态机实现，可以任意增删功能模块，而不用修改整个程序，完成的功能主要有自动加电、自动对光、芯片特性测试(I-L-V特性、波长、SMSR)、芯片质量评估、生成数据记录表格等，进而实现了系统的自动化。　　不同于面发射型激光器的片上测试，自动加电、自动对光是本文的设计重点，对出光功率以及耦合方向的可行性分析为系统的设计提供了可靠的基础验证。在确定了新测试标准，对I-V重复测试进行了可靠分析之后，目前该系统已经用于产线，解放了原来重复单调的人工操作。测试速率从原来的7分钟/激光器提高到不到3分钟/激光器，大大提高了测试效率。