超声相控阵技术近些年被逐步被应用到工业无损检测中,相控阵依据特定的聚焦法则产生偏转声束及聚集声束,不同类型声束的声场会出现较大区别,因此偏转角度和焦距变化会导致相控阵灵敏度发生变化,这为缺陷定量带来问题。传统的相控阵DAC曲线需要在工作前使用探头,模仿工作环境,在试块上选若干标准反射体做回波测试,得到相应数据然后描点连线,在超声检测系统中横通孔通常被当标准反射体,测量需耗费大量的时间。针对上述问题,本文提出了基于超声测量模型的相控阵系统灵敏度曲线计算方法。首先,介绍建立相控阵系统测量模型所用的理论方法,包括超声相控阵的辐射声场模型,阵元的时间延迟、缺陷散射模型,进而推导出一个适用于超声相控阵的测量模型,在获得检测系统的系统影响因子后,可以使用该模型进行模拟。利用相控阵检测系统测量模型来计算位于主声束轴线上不同位置处的横通孔缺陷回波信号,这些不同位置处横通孔回波信号幅值的差异,反映出阵列超声系统灵敏度的变化,计算回波信号的峰值,便可绘制出灵敏度变化曲线,即DAC曲线。这样,利用模型可以方便地预测各种延迟激励下的声场的DAC曲线,通过对超声相控阵测量模型模拟出的不同聚焦深度、不同偏转角度情况下的横通孔的DAC曲线进行比较,可得到横通孔直径大小、声束焦距以及声束偏转角度对DAC曲线产生的的影响的规律。在获得DAC曲线后可以依据相应的灵敏度曲线对阵列超声检测系统接收到的A信号进行灵敏度补偿,进而由这些A信号构成的B扫描图像,C扫描图像等可获得相应的灵敏度修正。最后,选取B型相控阵便携试块上的一系列横通孔标准反射体,使用相控阵检测系统测量这些横通孔的回波信号,然后进行灵敏度曲线的绘制,通过对比分析理论计算结果和实验测量结果的一致性,来验证本文提出的基于超声测量模型的灵敏度曲线绘制方法的有效性。