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KDP(磷酸二氢钾,2 4KH PO)晶体因其优良的光学性能和易生长出大口径的单晶体等特点,在ICF(惯性约束核聚变)系统中应用广泛。随着科学技术的发展,ICF系统对KDP晶体的表面质量要求越来越高。单点金刚石切削和磁流变抛光后晶体表面常存在如固体残留物、划痕、切削纹理等瑕疵,表面瑕疵会严重影响KDP晶体的光学性能。而传统的表面质量定性检测方法不能量化KDP晶体加工后表面损伤信息。本文在阅读大量文献的基础上,参考光学元件表面质量定量检测方法,利用光学显微镜获取表面图像,研究图像处理技术定量检测KDP