天线罩广泛应用于无线电各个领域,经过几十年的发展,天线罩从结构材料,形状等方面得到不断发展。分析天线罩的方法主要有:高频算法、低频算法,以及高低频结合算法。本课题的主要研究目标:电大尺寸(1568mm×935mm×557mm)、双频段天线罩,对其电性能的设计分析提供准确的仿真工具。经研究分析,本文采用两种高频分析方法:射线追踪法(RT)和口径积分-表面积分法(AISI),并完成了相关计算程序的编写。首先,采用等效电路法分析多层介质平板的透射、反射系数,并结合CST软件仿真,验证了分析方法的正确性。对于外形结构复杂的天线罩,通常难以用解析函数拟合,采用ANSYS软件对天线罩模型剖分成诸多三角形小面元。近似每一个三角形面元为平板,采用等效平板理论分析其电性能。针对采用俯仰、方位双轴扫描的天线,本文详细分析了其与罩的相对位置关系。其次,本文通过对比分析RT和AISI两种方法的计算结果与CST仿真结果,验证所编程序的正确性。对比算例包括:在单频段X波段,理想源天线和平板缝隙天线在带有A夹层天线罩情况下,对比分析了程序计算结果和仿真结果在不同扫描状态下的远区方向图;在双频段X和Ka波段,对理想源阵列在A夹层天线罩情况下,算法和仿真结果进行了对比分析。结果表明:RT算法、AISI算法结果都和CST仿真结果吻合较好;带罩阵列天线金属面的反射对远场方向图的透波率,和副瓣电平都有一定影响;对RT算法与AISI算法比较,RT算法的速度快于AISI算法,但精度低于AISI算法。与CST仿真软件相比,RT算法和AISI算法可以分析和设计大尺寸、结构复杂的天线罩。最后,对天线罩模型进行了加工,并对其进行测试,并且对平板缝隙阵列天线有无天线罩的远场方向图进行了对比分析。其中,透波率,副瓣电平抬高等指标基本满足合作单位的要求。同时,根据实际测量的近场数据代入AISI算法计算的远场方向图与实测远场方向图进行了对比,两者吻合较好,充分验证的算法的正确性。