目的：探讨弥散加权成像(DWI)、常规MRI在新生儿低血糖性脑损伤不同阶段的动态变化及其发生的高危因素。 方法：回顾分析了2005年9月至2008年9月，我院新生儿科收治的经MRI确诊的20例低血糖性脑损伤患儿的临床资料，并随机选取同期住院MRI正常的20例单纯性低血糖患儿为对照组。 结果：病例组患儿的平均胎龄(P<0.01)、出生体重(P<0.05)大于对照组，病例组平均最低血糖值低于对照组(P<0.01)，首次低血糖发生日龄大于对照组(P<0.01)，低血糖持续时间长于对照组(P<0.01)。病例组于低血糖发生后3.8(1—11)d完成首次MRI检查，受累部位主要为枕叶11例、枕顶叶8例，顶叶1例，受累部位在DWI均表现为高信号，常规MRI相应部位12例表现为T1加权(T1WI)、T2加权(T2WI)正常信号，仅6例表现为T1WI低信号、T2WI高信号；11例于首次检查后11.4(8—15)d完成第二次MRI检查，首次检查受累部位DWI7例转为正常信号，4例低信号，常规MRI均表现为T1WI低信号、T2WI高信号。3例于6个月随访，提示枕叶DWI正常信号，T1WI低信号、T2WI高信号。 结论：新生儿低血糖性脑损伤早期DWI表现为异常高信号的部位，与晚期常规MRI表现为T1WI低信号、T2WI高信号的部位一致，这种一致性提示DWI异常高信号对于低血糖性脑损伤早期病情判断具有一定价值；足月儿可能比早产儿更易罹患低血糖性脑损伤；低血糖性脑损伤的发生同血糖水平及低血糖持续时间密切相关。